Zuverlässigkeit elektronischer Systeme
Durch kürzere Entwicklungszeiten und höhere Anforderungen an elektronische Komponenten und Systeme nimmt die Bewertung der Zuverlässigkeit eine immer größere und wichtigere Rolle ein. Das Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM) organisiert ein zweitägiges Seminar, welches den Teilnehmer*innen die hierfür relevanten Methoden und Werkzeuge entlang des Produktentwicklungsprozesses vermittelt.
Seminar / 21. November 2024 (10:00-18:00 Uhr ) – 22. November 2024 (9:00-16:0o Uhr)
Fraunhofer IZM, Gustav-Meyer-Allee 25, 13355 Berlin
Zur Absicherung der Zuverlässigkeit elektronischer Systeme in allen Entwicklungsphasen liegt der Fokus auf den Themenfeldern:
- Definition und Einordnung wichtiger Begriffe
- Methoden zur Systembewertung
- Einflüsse von Belastungen und deren Ausfallmechanismen
- Empirische und physikalische Alterungsmodelle
- Simulationssystematik
- Realitätsnahe Umsetzung von Belastungstests
- Interpretation und Auswertung von Versuchsergebnissen
- Umgang mit Zuverlässigkeitskennwerten
- Absicherung der Zuverlässigkeit durch Zustandsüberwachung
- Analytische Messmethoden
Das Seminar richtet sich bevorzugt an Ingenieure/-innen aus den Bereichen Entwicklung, Technologie, Produktion, Fertigung und Qualitätssicherung. Den Teilnehmern werden Methoden und Hintergründe zur Absicherung der Zuverlässigkeit im Entwicklungs- und Produktionsprozess elektronischer Systeme vermittelt.
Die Veranstaltung wird von der Fachabteilung Environmental and Reliability Engineering des Fraunhofer-Instituts für Zuverlässigkeit und Mikrointegration am Standort in Berlin angeboten.