Seminar "Zuverlässigkeit elektronischer Systeme"

Was?

Seminar zur Bewertung der Zuverlässigkeit von Komponenten und Systemen - Methoden und Werkzeuge entlang des Produktentwicklungsprozesses

Wann?

14.11. bis 15.11.2019

Wo?

Fraunhofer IZM Berlin

Wer?

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Durch kürzere Entwicklungszeiten und höhere Anforderungen an elektronische Komponenten und Systeme nimmt die Bewertung der Zuverlässigkeit eine immer größere und wichtigere Rolle ein. Das Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM) bietet dazu ein zweitägiges Seminar an, welches den Teilnehmern die hierfür relevanten Methoden und Werkzeuge entlang des Produktentwicklungsprozesses vermittelt:

  • Definition und Einordnung wichtiger Begriffe
  • Methoden zur Systembewertung
  • Einflüsse von Belastungen und deren Ausfallmechanismen
  • Empirische und physikalische Alterungsmodelle
  • Simulationssystematik
  • Realitätsnahe Umsetzung von Belastungstests
  • Interpretation und Auswertung von Versuchsergebnissen
  • Umgang mit Zuverlässigkeitskennwerten
  • Absicherung der Zuverlässigkeit durch Zustandsüberwachung
  • Analytische Messmethoden

Das Seminar richtet sich vorzugsweise an Ingenieure/-innen aus den Bereichen Entwicklung, Technologie, Produktion, Fertigung und Qualitätssicherung.

Weitere Informationen finden Sie im Veranstaltungsflyer und auf unserer Webseite. Bitte melden Sie sich rechtzeitig über das auf der Veranstaltungsseite verlinkte Onlinetool an, da die Teilnehmerzahl auf 30 Personen begrenzt ist.