Zuverlässigkeit elektronischer Systeme
Hinweis: Aufgrund zu geringer Nachfrage musste das Seminar für dieses Jahr abgesagt werden.
Durch kürzere Entwicklungszeiten und höhere Anforderungen an elektronische Komponenten und Systeme nimmt die Bewertung der Zuverlässigkeit eine immer größere und wichtigere Rolle ein. Das Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM) organisiert ein zweitägiges Seminar, welches den Teilnehmer*innen die hierfür relevanten Methoden und Werkzeuge entlang des Produktentwicklungsprozesses vermittelt.
Seminar / 21. November 2024 (10:00-18:00 Uhr ) – 22. November 2024 (9:00-16:0o Uhr)
Fraunhofer IZM, Gustav-Meyer-Allee 25, 13355 Berlin
Zur Absicherung der Zuverlässigkeit elektronischer Systeme in allen Entwicklungsphasen liegt der Fokus auf den Themenfeldern:
- Definition und Einordnung wichtiger Begriffe
- Methoden zur Systembewertung
- Einflüsse von Belastungen und deren Ausfallmechanismen
- Empirische und physikalische Alterungsmodelle
- Simulationssystematik
- Realitätsnahe Umsetzung von Belastungstests
- Interpretation und Auswertung von Versuchsergebnissen
- Umgang mit Zuverlässigkeitskennwerten
- Absicherung der Zuverlässigkeit durch Zustandsüberwachung
- Analytische Messmethoden
Das Seminar richtet sich bevorzugt an Ingenieure/-innen aus den Bereichen Entwicklung, Technologie, Produktion, Fertigung und Qualitätssicherung. Den Teilnehmern werden Methoden und Hintergründe zur Absicherung der Zuverlässigkeit im Entwicklungs- und Produktionsprozess elektronischer Systeme vermittelt.
Die Veranstaltung wird von der Fachabteilung Environmental and Reliability Engineering des Fraunhofer-Instituts für Zuverlässigkeit und Mikrointegration am Standort in Berlin angeboten.