Zuverlässigkeit elektronischer Systeme

What?

Online-Seminar

When?

11-26 to 11-27-2020

Where?

Web-Seminar

Who?

More information:

www.izm.fraunhofer.de

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Durch kürzere Entwicklungszeiten und höhere Anforderungen an elektronische Komponenten und Systeme nimmt die Bewertung der Zuverlässigkeit eine immer größere und wichtigere Rolle ein. Das Fraunhofer Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM) organisiert ein zweitägiges Seminar, welches den Teilnehmern die hierfür relevanten Methoden und Werkzeuge entlang des Produktentwicklungsprozesses vermittelt.

Zur Absicherung der Zuverlässigkeit elektronischer Systeme in allen Entwicklungsphasen liegt der Fokus auf den Themenfeldern:

  • Definition und Einordnung wichtiger Begriffe
  • Methoden zur Systembewertung
  • Einflüsse von Belastungen und deren Ausfallmechanismen
  • Empirische und physikalische Alterungsmodelle
  • Simulationssystematik
  • Realitätsnahe Umsetzung von Belastungstests
  • Interpretation und Auswertung von Versuchsergebnissen
  • Umgang mit Zuverlässigkeitskennwerten
  • Absicherung der Zuverlässigkeit durch Zustandsüberwachung
  • Analytische Messmethoden

Das Seminar richtet sich vorzugsweise an Ingenieure/-innen aus den Bereichen Entwicklung, Technologie, Produktion, Fertigung und Qualitätssicherung.

Weitere Informationen finden Sie im Veranstaltungsflyer und auf unserer Webseite. Bitte melden Sie sich rechtzeitig über das auf der Veranstaltungsseite verlinkte Onlinetool an, da die Teilnehmerzahl auf 30 Personen begrenzt ist. Nach Ihrer Anmeldung erhalten Sie eine Bestätigung und eine Woche vor dem Event auch den Zugangslink für unseren Workshop.