Zuverlässigkeit elektronischer Systeme – Seminar 09.-10.11.2023
Durch kürzere Entwicklungszeiten und höhere Anforderungen an elektronische Komponenten und Systeme nimmt die Bewertung der Zuverlässigkeit eine immer größere und wichtigere Rolle ein. Das Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM) organisiert ein zweitägiges Seminar, welches den Teilnehmer*innen die hierfür relevanten Methoden und Werkzeuge entlang des Produktentwicklungsprozesses vermittelt.
Das Seminar richtet sich bevorzugt an Ingenieure/-innen aus den Bereichen Entwicklung, Technologie, Produktion, Fertigung und Qualitätssicherung. Den Teilnehmern werden Methoden und Hintergründe zur Absicherung der Zuverlässigkeit im Entwicklungs- und Produktionsprozess elektronischer Systeme vermittelt.
Der erste Tag des Seminars startet mit der Schaffung eines gemeinsamen Verständnisses von Begriffen. Es werden Methoden zur Untersuchung von Systemen und zur Festlegung der Randbedingungen vorgestellt, die die Bewertung der Systemzuverlässigkeit ermöglichen. Um Abschätzungen über die zu erwartende Lebensdauer vorhersagen zu können, sind applikationsspezifische Belastungsprofile notwendig. Diese werden in Korrelation mit Testprofilen gebracht.
Am zweiten Veranstaltungstag werden zuerst die Möglichkeiten und Grenzen numerischer Simulation aufgezeigt, um Entwicklungen frühzeitig zu unterstützen. Die Wichtigkeit der Strukturanalyse und Materialcharakterisierung für quantitative Zuverlässigkeitsaussagen wird diskutiert. Des Weiteren werden verschiedene Methoden vorgestellt, um die Zuverlässigkeit im Test und Feld erfassen zu können.
Der erste Tag endet mit einer Laborbesichtigung, der zweite Tag mit einem Workshop, in dem die Teilnehmer das erlernte Wissen unter Anleitung anwenden. Die nachhaltige Wissensvermittlung steht dabei im Fokus.
Seminar / 09. – 10. November 2023, 10:00-18:00 // 9:00-16:00
Maximale Teilnehmerzahl: 30
Ort: Fraunhofer IZM, Gustav-Meyer-Allee 25, 13355 Berlin