IZM-Seminar „Zuverlässigkeit elektronischer Systeme“

Die zweitägige Veranstaltung wird von der Fachabteilung Environmental and Reliability Engineering des Fraunhofer-Instituts für Zuverlässigkeit und Mikrointegration am Standort in Berlin angeboten.

Sie richtet sich bevorzugt an Ingenieure/-innen aus den Bereichen Entwicklung, Technologie, Produktion, Fertigung und Qualitätssicherung. Den Teilnehmern werden Methoden und Hintergründe zur Absicherung der Zuverlässigkeit im Entwicklungs- und Produktionsprozess elektronischer Systeme vermittelt.

Der erste Tag des Seminars startet mit der Schaffung eines gemeinsamen Verständnisses von Begriffen. Es werden Methoden zur Untersuchung von Systemen und zur Festlegung der Randbedingungen vorgestellt, die die Bewertung der Systemzuverlässigkeit ermöglichen.Um Abschätzungen über die zu erwartende Lebensdauer vorhersagen zu können, sind applikationsspezifische Belastungsprofile notwendig. Diese werden in Korrelation mit Testprofilen gebracht.

Am zweiten Veranstaltungstag werden zuerst die Möglichkeiten und Grenzen numerischer Simulation aufgezeigt, um Entwicklungen frühzeitig zu unterstützen. Die Wichtigkeit der Strukturanalyse und Materialcharakterisierung für quantitative Zuverlässigkeitsaussagen wird diskutiert. Des Weiteren werden verschiedene Methoden vorgestellt, um die Zuverlässigkeit im Test und Feld erfassen zu können. Beide Tage werden jeweils mit einem Workshop beendet, in dem die Teilnehmer das erlernte Wissen unter Anleitung an-wenden. Die nachhaltige Wissensvermittlung steht dabei im Fokus.

Online Seminar  /  17. November 2021  –  18. November 2021, 9:00 – 16:15

Bitte melden Sie sich rechtzeitig über das auf der Veranstaltungsseite verlinkte Onlinetool an, da die Teilnehmerzahl auf 30 Personen begrenzt ist.

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