17. VDE ITG MN 5.6 Fachtagung »f(ast)WLR, Wafer Level Reliability, Zuverlässigkeits-Simulation & Qualifikation«
Die VDE ITG Fachgruppe MN 5.6 lädt herzlich Experten sowie Newcomer auf dem Gebiet der Halbleiterzuverlässigkeit zur 17. VDE ITG MN 5.6 Fachtagung »f(ast)WLR, Wafer Level Reliability, Zuverlässigkeits-Simulation & Qualifikation« an das Fraunhofer IKTS in Dresden ein – dieses Jahr mit dem Fokusthema: »Chiplets & their usage in fWLR Methodology«.
17. VDE ITG MN 5.6 Fachtagung »f(ast)WLR, Wafer Level Reliability, Zuverlässigkeits-Simulation & Qualifikation«
26. Mai 2025 – 28. Mai 2025
Fraunhofer IKTS, Maria-Reiche-Str. 2, 01109 Dresden
Die Halbleiterindustrie Europas ist im Aufbruch, die Transformation in der Automobilindustrie steckt in einer Krise, die Bedrohung durch Cyberangriffe steigt und geostrategische Verwerfungen beeinflussen Produktdesigns und ganze Lieferketten: All das stellt wachsende Anforderungen an die Zuverlässigkeit elektronischer Bestandskomponenten und gewandelter elektronischer Systemkonponenten. Bewährte Zuverlässigkeitsstandards werden obsolet, neue Erprobungs- und Absicherungsmethoden, Werkzeuge und Modelle rücken in den Fokus. Tatsächlich bietet der Zwang zum Wandel auch Chancen.
Für diese Themenfelder bietet die ITG-Fachtagung ein Forum zum Austausch zwischen deutschsprachigen und europäischen Halbleiterfirmen sowie Universitäten und Forschungseinrichtungen auf dem Gebiet der Halbleiter(prozess)zuverlässigkeit, zuverlässigkeitssteigernder Entwurfs- und Betriebsmethoden sowie deren Simulation.
Darüber hinaus anvisierte Themen sind Methoden und Verfahren der Fertigungsprozessüberwachung, ihre Neuverwertung im erweiterten Einsatz in der Chip-internen Überwachung sowohl in der Fertigung wie auch im Feldeinsatz – damit rücken Disziplinen aus der Qualifikation, der Fertigungsüberwachung, der Fehleranalyse und des Chip- und des Systemdesigns enger zusammen.
Ein weiterer Schwerpunkt ist die Berichterstattung zu weltweiten Standardisierungsaktivitäten und Trends. Bei der ITG-Fachtagung werden u. a. Standards der Organisationen JEDEC, AEC und IEC vorgestellt, diskutiert und Beiträge für Standardisierungsgremien vorbereitet.